プレート外観検査装置
特長
プレート外観検査装置は当社が開発した画像外観検査装置で高性能レーザー測定器と高精細ラインセンサカメラを組み合わせた、進化した画像処理外観検査システムです。画像処理機能、品質管理データ機能を強化し、プロセスフィードバックへ貢献します。
特注対応
お客様の検査対象物に応じ、測定・検査用素子を変更し対応することが可能ですのでご遠慮なくお申し付け下さい。
基本性能及び動作環境
基本性能
金属プレート、鏡面材質の板状対象物などの外観検査、高さ測定(3次元)が行えます。
動作環境
動作環境 | 使用温度範囲 0℃~50℃(結露なきこと) |
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耐振動性 | 2G/20~500Hz |
撮像素子 | 高解像度ラインセンサカメラ(7,500画素-16,000画素) |
測定素子 | 670nmレーザー/スポット径45μm(設定により可変) |
特注対応 | レーザー測定部を共焦点光学系へ変更することが可能。 |